Дифракционная электронная микроскопия в металловедении

В книге рассмотрены подготовка аппаратуры и образцов к прямому исследованию в просвечивающем электронном микроскопе, работа оператора микроскопа и приемы анализа электронных микрофотографий и микроэлектронограмм. Детально показано применение понятия об обратной решетке в кристаллографических расчетах и при анализе дифракционных картин, методика фазового анализа, однозначного определения и уточнения ориентировки и разориентировки соседних микрообластей, ориентационных и габитусных соотношений кристаллов одной или разных фаз. Рассмотрены и проиллюстрированы примерами новые методические приемы, разработанные в последние годы для повышения разрешения изображений дефектов, для анализа полей смещения у включений и т. д. Книга рассчитана на металловедов, овладевающих методом дифракционной электронной микроскопии, и может быть полезна специалистам, изучающим тонкую структуру любых кристаллических тел, а также студентам соответствующих вузов.