Измерение анизотропных диэлектриков на СВЧ.

Существующие в настоящее время неразрушающие методы и средства измерений параметров материалов на сверхвысоких частотах значительно уступают по точности разрушающим, имеют недостаточно высокую разрешающую способность, не позволяют измерять комплексные компоненты тензора диэлектрической проницаемости, главные направления (оптические оси) оптически непрозрачных (прозрачных) кристаллов. Целью монографии является разработка физических принципов, математического аппарата и измерительного комплекса для определения электрических характеристик широкого класса изотропных и анизотропных материалов без их разрушения на сверхвысоких частотах. Построена электродинамическая модель электромагнитных колебаний в волноводных разветвлениях различной конфигурации, заполненных анизотропной средой, которая ориентирована на определение электрических свойств кристаллических диэлектриков и на ее основе созданы устройства для определения электрических характеристик анизотропных диэлектриков. Разработаны новые...