Измерение параметров приборов оптоэлектроники

Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектроники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники. Разработаны научно-методические основы метрологического обеспечения предприятия. Для специалистов, работающих в различных областях радиоэлектроники, а также для студентов и аспирантов соответствующих специальностей.