Контроль качества и надежность микросхем. Учебник
-
Сейчас читают
-
Отложили
-
Прочитали
-
Не дочитали
Автор:
Рассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики...Ещё
Рассматриваются главные направления теории надежности. Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем. Определяется место неразрушающего контроля в системе управления качеством. Излагаются методики климатических и механических испытаний, методы контроля качества интегральных микросхем. Рассматриваются вопросы создания автоматизированных систем управления качеством. Для учащихся техникумов по специальности "Производство изделий электронной техники".
- 1989 г.
- 5256002570
Материалы
Отзывы
Раз в месяц дарим подарки самому активному читателю.Оставляйте больше отзывов, и мы наградим вас!
Цитаты
Вы можете первыми опубликовать цитату