Методы анализа поверхностей

Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются та­кие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рент­геновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спектроскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия. Предназначена для широкого круга научных работников — физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров и технологов, а также для преподавателей вузов и студентов со­ответствующих специальностей.