Надежность и эффективность радиоэлектронных устройств

В книге излагаются основные положения теории надежности и массового обслуживания на базе теории случайных функций, рассматриваются методы исследования надежности и эффективности радиоэлектронных устройств. Особое внимание уделено различным методам физического моделирования процессов, протекающих в радиоэлектронных устройствах в период эксплуатации, среди которых важную роль играют граничные и матричные испытания. Приводится описание автомата матричных испытаний и даются примеры его использования при лабораторных исследованиях надежности ряда схем на транзисторах. Настоящая книга предназначена для широкого круга инженеров, занимающихся проектированием, испытанием и эксплуатацией радиоэлектронной аппаратуры, а также для учащихся старших курсов высших технических учебных заведений. Теоретические разделы книги могут быть полезны научным работникам и аспирантам, стремящимся к более глубокому изучению теоретических основ надежности и массового обслуживания.