Проектирование тестопригодных логических схем

В книге английского специалиста обобщены результаты исследований и практической реализации в области проектирования тестопригодных логических схем. Количественные меры тестопригодности рассмотрены на примерах реальных устройств. Обсуждены достоинства и недостатки структурных методов тестопригодного проектирования, проанализированы методы встроенного тестирования схем с использованием совмещенных генераторов тестовых последовательностей и накопителей сигнатур. Предложен подход, основанный на сочетании детерминированных и вероятностных методов тестового диагностирования. Для инженерно-технических работников, связанных с созданием и применением диагностических систем.