Применение статистических методов в рентгеновской кристаллографии

Монография посвящена применению вероятностных методов и статистики в рентгеновской кристаллографии. Ее авторы - известные индийские физики из Физического центра Мадрасского университета - внесли значительный вклад в развитие этого направления в физике твердого тела. В книге впервые систематически и достаточно подробно излагаются современные методы определения симметрии кристаллов и статистической проверки изоморфизма. Основное внимание уделено анализу вероятностных распределений интенсивностей при рентгеновской дифракции на монокристалле, статистике интенсивностей для пары кристаллов и статистическим распределениям в присутствии аномального рассеяния. Общие положения теории иллюстрируются конкретными результатами расчетов в виде графиков и таблиц. Книга рассчитана на физиков - теоретиков и экспериментаторов, студентов старших курсов и аспирантов, занимающихся вопросами рентгеновской кристаллографии, нейтронографии и электронографии.